菲尼克斯存儲(chu) 器IBS MC FLASH 2MB
存儲(chu) 器（Memory）是現代信息技術中用於(yu) 保存信息的記憶設備。其概念很廣，有很多層次，在數字係統中，隻要能保存二進製數據的都可以是存儲(chu) 器；在集成電路中，一個(ge) 沒有實物形式的具有存儲(chu) 功能的電路也叫存儲(chu) 器，如RAM、FIFO等；在係統中，具有實物形式的存儲(chu) 設備也叫存儲(chu) 器，如內(nei) 存條、TF卡等。計算機中全部信息，包括輸入的原始數據、計算機程序、中間運行結果和zui終運行結果都保存在存儲(chu) 器中。它根據控製器的位置存入和取出信息。有了存儲(chu) 器，計算機才有記憶功能，才能保證正常工作。計算機中的存儲(chu) 器按用途存儲(chu) 器可分為(wei) 主存儲(chu) 器（內(nei) 存）和輔助存儲(chu) 器（外存）,也有分為(wei) 外部存儲(chu) 器和內(nei) 部存儲(chu) 器的分類方法。外存通常是磁性介質或光盤等，能長期保存信息。內(nei) 存指主板上的存儲(chu) 部件，用來存放當前正在執行的數據和程序，但僅(jin) 用於(yu) 暫時存放程序和數據，關(guan) 閉電源或斷電，數據會(hui) 丟(diu) 失。
存儲(chu) 器測試的目的是確認在存儲(chu) 設備中的每一個(ge) 存儲(chu) 位置都在工作。換一句話說，如果你把數50存儲(chu) 在一個(ge) 具體(ti) 的地址，你希望可以找到存儲(chu) 在那裏的那個(ge) 數，直到另一個(ge) 數寫(xie) 入。任何存儲(chu) 器測試的基本方法是，往存儲(chu) 器寫(xie) 入一些數據，然後根據內(nei) 存設備的地址，校驗讀回的數據。如果所有讀回的數據和那些寫(xie) 入的數據是一樣的，那麽(me) 就可以說存儲(chu) 設備通過了測試。隻有通過認真選擇的一組數據你才可以確信通過的結果是有意義(yi) 的。
當然，像剛才描述的有儲(chu) 器的測試不可避免地具有破壞性。在內(nei) 存測試過程中，你必須覆蓋它原先的內(nei) 容。因為(wei) 重寫(xie) 非易失性存儲(chu) 器內(nei) 容通常來說是不可行的，這一部分描述的測試通常隻適用於(yu) RAM 的測試。
德國菲尼克斯電氣集團成立於(yu) 1928年。
作為(wei) zui著名的接口產(chan) 品供應商，電氣連接、電子接口技術和自動化領域的世界市場*。
德國菲尼克斯電氣集團已有八十多年的曆史了，目前在近四十個(ge) 國家擁有子公司，五十多個(ge) 國家設有代表處。
高品質的菲尼克斯TRABTECH產(chan) 品為(wei) 石化、電力、通訊、交通、冶金、風電、建築等行業(ye) 提供了全麵的防雷及電湧保護解決(jue) 方案，采用係統防護理念，重視所有電源、測控、通信、饋線接口的防護，確保係統的安全運行。
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